Valutazione teorica della riflettanza nei film sottili AL/SiO2

Il miglioramento delle proprieta ottiche di un materiale, come la riflettanza, comporta la complessa ricerca dei parametri sperimentali ottimali nel processo di ottenimento.

L'uso di software computazionali per la simulazione di questi processi di crescita di film sottili rappresenta un vantaggio sostanziale dovuto alla non dipendenza da un sistema reale, cosi come la possibilita di esplorare una gamma piu ampia di quantita fisiche coinvolte.

Inoltre, c'e una necessita nell'industria automobilistica, Varroc Lighting Systems(c) ha ricevuto il compito di migliorare la riflettanza dei fari alluminati, cosi abbiamo effettuato lo sviluppo, utilizzando il software NASCAM(R), che utilizza il metodo cinetico Monte Carlo per sviluppare un modello del sistema fisico da studiare su scala nanometrica, questo ci permettera di analizzare l'influenza di diverse grandezze che possono influenzare la riflettanza del materiale.