Evaluacion teorica de la reflectancia en capas delgadas de AL/SiO2

La mejora de las propiedades opticas de un material, tales como la reflectancia, implica la compleja busqueda de los parametros experimentales optimos en su proceso de obtencion.

La utilizacion de un software computacional para la simulacion de estos procesos de crecimiento de capas delgadas representa un beneficio sustancial debido a la no dependencia de un sistema real, asi como la posibilidad de explorar un mayor rango de magnitudes fisicas involucradas.

Ademas, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems(c) se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM(R), el cual utiliza el metodo cinetico de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema fisico a estudiar en una escala nanometrica, este nos permitira analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material.